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一种基于矢量光场的距离探测系统及其应用   0    0

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专利申请流程有哪些步骤?
专利申请流程图
申请
申请号:指国家知识产权局受理一件专利申请时给予该专利申请的一个标示号码。唯一性原则。
申请日:提出专利申请之日。
2017-01-23
申请公布
申请公布指发明专利申请经初步审查合格后,自申请日(或优先权日)起18个月期满时的公布或根据申请人的请求提前进行的公布。
申请公布号:专利申请过程中,在尚未取得专利授权之前,国家专利局《专利公报》公开专利时的编号。
申请公布日:申请公开的日期,即在专利公报上予以公开的日期。
2017-07-25
授权
授权指对发明专利申请经实质审查没有发现驳回理由,授予发明专利权;或对实用新型或外观设计专利申请经初步审查没有发现驳回理由,授予实用新型专利权或外观设计专利权。
2019-05-14
预估到期
发明专利权的期限为二十年,实用新型专利权期限为十年,外观设计专利权期限为十五年,均自申请日起计算。专利届满后法律终止保护。
2037-01-23
基本信息
有效性 有效专利 专利类型 发明专利
申请号 CN201710050790.8 申请日 2017-01-23
公开/公告号 CN106908004B 公开/公告日 2019-05-14
授权日 2019-05-14 预估到期日 2037-01-23
申请年 2017年 公开/公告年 2019年
缴费截止日
分类号 G01B11/14G01B11/02 主分类号 G01B11/14
是否联合申请 独立申请 文献类型号 B
独权数量 1 从权数量 3
权利要求数量 4 非专利引证数量 1
引用专利数量 5 被引证专利数量 0
非专利引证 1、Tengyue Gao等.The Two-slitInterference of Vector Optical Fieldswith Radially-variant Polarization. 《Progress In Electromagnetic ResearchSymposium》.2016,Yongnan Li等.Young’s two-slitinterference of vector light fields. 《OPTICS LETTERS》.2012,第37卷(第11期),;
引用专利 CN104034268A、CN102607435A、CN101846553A、CN101458211A、CN203687880U 被引证专利
专利权维持 5 专利申请国编码 CN
专利事件 事务标签 公开、实质审查、授权
申请人信息
申请人 第一申请人
专利权人 浙江理工大学 当前专利权人 浙江理工大学
发明人 陈瑞品、高腾跃、钱朝阳、张晓雨 第一发明人 陈瑞品
地址 浙江省杭州市江干经济开发区2号大街928号 邮编 310018
申请人数量 1 发明人数量 4
申请人所在省 浙江省 申请人所在市 浙江省杭州市
代理人信息
代理机构
专利代理机构是经省专利管理局审核,国家知识产权局批准设立,可以接受委托人的委托,在委托权限范围内以委托人的名义办理专利申请或其他专利事务的服务机构。
杭州求是专利事务所有限公司 代理人
专利代理师是代理他人进行专利申请和办理其他专利事务,取得一定资格的人。
邱启旺
摘要
本发明公开了一种基于矢量光场的距离探测系统及其应用,包括矢量光源、反光镜、双透镜、双缝、凸透镜、光电探测器和信号处理系统;将双缝设置在初始点位置,将光电探测器设置在待测点位置,所述矢量光源向反光镜发射矢量光,矢量光经反光镜反射后,经双透镜调整光路宽度后,然后射入双缝,产生干涉图样;根据光电探测器测得的光信息获得所述待测物体的距离。该系统具有测量精度高,且结构简单,安装方便,价格低廉,适用范围广的特点。
  • 摘要附图
    一种基于矢量光场的距离探测系统及其应用
  • 说明书附图:图1
    一种基于矢量光场的距离探测系统及其应用
  • 说明书附图:图2
    一种基于矢量光场的距离探测系统及其应用
  • 说明书附图:图3
    一种基于矢量光场的距离探测系统及其应用
  • 说明书附图:图4
    一种基于矢量光场的距离探测系统及其应用
法律状态
序号 法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
1 2019-05-14 授权
2 2017-07-25 实质审查的生效 IPC(主分类): G01B 11/14 专利申请号: 201710050790.8 申请日: 2017.01.23
3 2017-06-30 公开
权利要求
权利要求书是申请文件最核心的部分,是申请人向国家申请保护他的发明创造及划定保护范围的文件。
1.一种基于矢量光场的距离探测系统,其特征在于,包括矢量光源(1)、反光镜(2)、双透镜(3)、双缝(4)、凸透镜(5)、光电探测器(6)和信号处理系统(7);将双缝(4)设置在初始点位置,将光电探测器(6)设置在待测点位置,所述矢量光源(1)向反光镜(2)发射矢量光,矢量光经反光镜(2)反射后,经双透镜(3)调整光路宽度后,形成半径为ε的光束,然后射入双缝(4),产生干涉,经凸透镜(5)聚焦后,射入光电探测器(6),光电探测器(6)测得干涉图样中任一点P的光强I,并输入到信号处理系统(7),信号处理系统(7)通过计算获得初始点到待测点之间的距离d=2πbx/(λδ),其中,δ=arccos[(I-2)/(2(cos2mθB))];
m为拓扑荷数,b为狭缝间距,x为P点到干涉图样中心点的水平距离,θB=arccos(b/(2ε)),λ为矢量光波长;
在探测直线位移时,将所述光电探测器与待测物体连接,将所述双缝设置在待测物体直线运动的延长线上,根据光电探测器测得的光信息获得所述待测物体的实时位移。

2.根据权利要求1所述的距离探测系统,其特征在于,所述的双缝(4)为微结构双缝。

3.根据权利要求1所述的距离探测系统,其特征在于,所述的光电探测器(6)为面阵探测器或线阵探测器,或是点阵探测器。

4.一种权利要求1所述距离探测系统在直线位移传感中的使用方法,其特征在于,该方法为,将所述光电探测器(6)与待测物体连接,将所述双缝(4)设置在待测物体直线运动的延长线上,根据光电探测器(6)测得的光信息获得所述待测物体的实时位移。
说明书

技术领域

[0001] 本发明涉及矢量光测位移领域,尤其涉及一种基于矢量光场的距离探测系统及其应用。

背景技术

[0002] 激光干涉法测位移。这是一种相对测量,它无法测得一个物体离仪器的绝对距离,但可以测得两被测物体的相对距离。它的原理是一台迈克尔逊干涉仪,利用反射镜距离变化时干涉条纹的变化来测量,反射镜从物体A运动到物体B,干涉条纹变化的数量反映了其距离。这种测量要求条件较高,但是可以精确测量,它也是目前所有测量手段中最精确的一种。而矢量光场测位移,是对光学测位移的一项技术革新,使得原来的干涉条纹由一维变为二维,极大的提高了系统灵敏度,使得位移测量更加的精确。

发明内容

[0003] 本发明的目的是在于提供一种利用矢量光场的干涉条纹的距离探测系统及其应用,具有测量精度高,且结构简单,安装方便,价格低廉,适用范围广等特点。
[0004] 本发明通过以下技术方案来实现:一种基于矢量光场的距离探测系统,包括矢量光源、反光镜、双透镜、双缝、凸透镜、光电探测器和信号处理系统;将双缝设置在初始点位置,将光电探测器设置在待测点位置,所述矢量光源向反光镜发射矢量光,矢量光经反光镜反射后,经双透镜调整光路宽度后,形成半径为ε的光束,然后射入双缝,产生干涉,经凸透镜聚焦后,射入光电探测器,光电探测器测得干涉图样中任一点P的光强I,并输入到信号处理系统,信号处理系统通过计算获得初始点到待测点之间的距离d=πbx/(λδ),其中,δ=arccos[(I-2)/(2(cos2mθB))],m为拓扑荷数,b为狭缝间距,x为P点到干涉图样中心点的水平距离,θB=arccos(b/(2ε)),λ为矢量光波长。
[0005] 进一步地,所述的双缝模板为微结构双缝。
[0006] 进一步地,所述的光电探测器为面阵探测器或线阵探测器,还可以是点阵探测器。
[0007] 一种距离探测系统在直线位移传感中的应用,该应用为,将所述光电探测器与待测物体连接,将所述双缝设置在待测物体直线运动的延长线上,根据光电探测器测得的光信息获得所述待测物体的实时位移。
[0008] 本发明的有益效果在于:该系统具有测量精度高,且结构简单,安装方便,价格低廉,适用范围广的特点。

实施方案

[0014] 如图3所示,一种基于矢量光场的距离探测系统,包括矢量光源1、反光镜2、双透镜3、双缝4、凸透镜5、光电探测器6和信号处理系统7;将双缝4设置在初始点位置,将光电探测器6设置在待测点位置,所述矢量光源1向反光镜2发射矢量光,矢量光经反光镜2反射后,经双透镜3调整光路宽度后,形成半径为ε的光束,然后射入双缝4,产生干涉,经凸透镜5聚焦后,射入光电探测器6,干涉条纹的产生通过以下方法实现:
[0015] 已知任意混合偏振态矢量光场的光场强度公式为:
[0016]
[0017] 其中r=(x2+y2)1/2,即为经双透镜3调整光路宽度后的光束半径,r=ε,θ=arctan(y/x),m为拓扑荷数,θ0为矢量光的初始相位,l/r0为矢量光沿径向的偏振态变化快慢参数。ex和ey分别为x方向和y方向上的单位矢量,A0表示振幅,在接下来的推算中,我们认为A位于光束截面上任意一点均为恒定值。r表示在狭缝所在的xy平面上,笛卡尔坐标系中原点到考察点的距离。θ为光束横截面所在的极坐标系的方位角。如图1所示,在xy平面上存在AB两条狭缝,狭缝之间的距离为b,同时AB狭缝到原点的距离相同,并且相互平行,与x轴垂直,狭缝宽度为a。当由公式所表示的单色混合偏振态矢量光场通过两条狭缝后,可以等效为两个次级线光源,最后在平行于xy平面后的观测平面上进行叠加。我们取d为狭缝到观测平面的距离。假设狭缝的宽度足够小且长度无限,此外狭缝间距b的尺度与缝到观测平面的距离d相比也足够小。
[0018] 分解矢量光场进行理论计算:
[0019] 将混合偏振态矢量光场分解为x与y方向的两个分量偏振光,彼此相对独立。表达式分别写作
[0020] Ex(θ)=cos[mθ+2πl(r/r0)+θ0]
[0021] Ey(θ)=sin[mθ+2πl(r/r0)+θ0]
[0022] 当光束到达AB狭缝时,光束可以看成是如图1所示,从图中可以看出,只有恰好位于狭缝所在位置的光线才可以通过狭缝。狭缝AB关于y轴对称,因此位于两狭缝上y坐标值相同的两个点所对应原点的方位角分别为θA与θB。我们可以发现θA与θB互为补角关系,即θA=π-θB。当分解的x与y方向的偏振光场通过AB狭缝时,其表达式可以写为:
[0023]
[0024]
[0025]
[0026]
[0027] 可以分别写出x方向偏振态分量以及y方向偏振态分量在干涉后的光强表达式Ix与Iy。首先我们令
[0028]
[0029]
[0030] 则Ix与Iy的光强表达式可以简化写为:
[0031]
[0032]
[0033] 其中δ为通过AB两狭缝光束之间的相位差。在杨氏双缝干涉实验中,如图3-2所示,设入射光源的初相位为φ0(t),它是一个随机产生的量,考察位置P处分别接收来自(QAP)与(QBP)两个光扰动的相位分别写为:
[0034]
[0035]
[0036] 则相位差为
[0037]
[0038] 总的干涉强度公式为
[0039] I(x,y)=Ix(x,y)+Iy(x,y)=2+2cos(2mθB)cosδ
[0040] δ=2πbx/(λd)
[0041] 其中d是双缝所在平面到光电传感器所在平面的距离,也就是我们所需要测量的距离。
[0042] 即d=2πbx/(λδ)。
[0043] 下面通过以下实验验证本发明所述方法的可靠性:
[0044] 设置试验距离5cm、20cm、1m,按照图3所示的布置方式布置矢量光源1、反光镜2、双透镜3、双缝4、凸透镜5、光电探测器6和信号处理系统7;将双缝4设置在初始点位置,将光电探测器6设置在待测点位置,所述矢量光源1向反光镜2发射矢量光,矢量光经反光镜2反射后,经双透镜3调整光路宽度后,形成半径为ε的光束,然后射入双缝4,产生干涉,经凸透镜5聚焦后,射入光电探测器6,光电探测器6测得干涉图样中任一点P的光强I,并输入到信号处理系统7,信号处理系统7通过计算获得初始点到待测点之间的距离d=2πbx/(λδ),其中,δ=arccos[(I-2)/(2(cos2mθB))];
[0045] m为拓扑荷数,b为狭缝间距,x为P点到干涉图样中心点的水平距离,θB=arccos(b/(2ε)),λ为矢量光波长。
[0046] 三个测量距离的结果输出如下表所示:
[0047]设定距离 5cm 20cm 1m
测量结果 5.002cm 19.998cm 100.003cm
[0048] 本发明还提供上述距离探测系统在直线位移传感中的应用,该应用为,将所述光电探测器7与待测物体连接,将所述双缝4设置在待测物体直线运动的延长线上,根据光电探测器7测得的光信息获得所述待测物体的实时位移。

附图说明

[0009] 图1为矢量光束通过双缝的演示;
[0010] 图2为双缝干涉装置示意图;
[0011] 图3为矢量光束投射原理图;
[0012] 图4为当初始相位为0,拓扑荷数为1,调控参数为1时的干涉条纹图样。
[0013] 图中,矢量光源1、反光镜2、双透镜3、双缝4、凸透镜5、光电探测器6、信号处理系统7。
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