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寻找关于G01R33/12:测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性领域相关可售专利
G01R33/12领域相关在售专利
G01R大组
G01R1/00:包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R3/00:专门用于制造测量仪器的设备或方法
G01R5/00:将单个的电流或电压转换成为机械位移的仪表
G01R7/00:能将两个或多个电流或电压转换为单一机械位移的仪表
G01R9/00:采用机械谐振的仪表
G01R11/00:用于测量电功率或电流的时间积分的机—电装置，例如测量消耗量的时间积分
G01R13/00:显示电变量或波形的装置
G01R15/00:包含在G01R 17/00至G01R 29/00、G01R 33/00至G01R 33/26或G01R 35/00组中的各种测量装置的零部件
G01R17/00:包括与一个基准值作比较的测量装置，例如电桥
G01R19/00:用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
G01R21/00:电功率、功率因数的测量装置
G01R22/00:用于测量电功率或电流的时间积分的装置，例如电表
G01R23/00:测量频率的装置；频谱分析装置
G01R25/00:测量一个电压与一个电流之间的相位角或者电压之间或电流之间的相位角的装置
G01R27/00:测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R29/00:不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R31/00:电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置
G01R33/00:测量磁变量的装置或仪器
G01R35/00:包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
G01R1/00小组
G01R1/02:·一般结构零部件
G01R1/20:·电测量仪器中所用的基本电气元件的改进；这些元件和这类仪器的结构组合
G01R1/28:·在测量仪器中提供基准值的设备，例如提供标准电压、标准波形
G01R1/30:·电测量仪器与基本电子线路的结构组合，例如与放大器的结构组合
G01R1/36:·电测量仪器的过负载保护装置或电路
G01R1/38:·改变指示特性的装置，例如改进空气间隙
G01R1/40:·对仪器进行改进，使之能指示在一定时间内所达到的最大值或最小值，例如用最大值指示器指针
G01R1/44:·对仪器进行改进以实现温度补偿
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一种多层拓扑绝缘体的Faraday极化偏转分析方法
一种多层拓扑绝缘体的Faraday极化偏转分析方法
发明专利
有效专利
光学
申请日：
2019-04-29
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R33/12
发明人：
曾然,陈芳芳,张猛,胡淼,李浩珍,毕美华,杨淑娜,李齐良
申请人：
杭州电子科技大学
用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器
用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器
发明专利
有效专利
微波
申请日：
2019-05-10
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R27/26
、
G01R33/12
发明人：
甘宏祎,赵文生,徐魁文,王高峰
申请人：
杭州电子科技大学
用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器
用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器
发明专利
有效专利
微波
申请日：
2019-05-10
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R27/26
、
G01R33/12
发明人：
甘宏祎,赵文生,王晶,胡月,王高峰
申请人：
杭州电子科技大学
用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的差分微波传感器
用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的差分微波传感器
发明专利
有效专利
微波
申请日：
2019-05-10
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R27/26
、
G01R33/12
发明人：
赵文生,甘宏祎,徐魁文,王高峰
申请人：
杭州电子科技大学
用于同步测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器
用于同步测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器
发明专利
有效专利
微波
申请日：
2019-05-10
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R27/26
、
G01R33/12
发明人：
赵文生,甘宏祎,胡月,王晶,王高峰
申请人：
杭州电子科技大学
一种纳米尺度磁化动态的测量方法
一种纳米尺度磁化动态的测量方法
发明专利
有效专利
申请日：
2018-04-24
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R33/12
发明人：
张向平,方晓华,范晓雯
申请人：
金华职业技术学院
一种样品磁性的原位测量方法
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发明专利
有效专利
申请日：
2018-04-24
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R33/032
、
G01R33/12
发明人：
张向平,方晓华,赵永建
申请人：
金华职业技术学院
一种磁化矢量测量方法
一种磁化矢量测量方法
发明专利
有效专利
申请日：
2018-04-24
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R33/032
、
G01R33/12
发明人：
张向平,方晓华,赵永建
申请人：
金华职业技术学院
一种纳米结构磁性测量方法
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发明专利
有效专利
物理测量
申请日：
2018-04-24
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R33/12
发明人：
傅晶晶
申请人：
金华职业技术学院
一种磁光克尔信号测量方法
一种磁光克尔信号测量方法
发明专利
有效专利
申请日：
2018-04-24
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R33/032
、
G01R33/12
、
G01N27/72
、
G01N21/84
发明人：
傅晶晶
申请人：
金华职业技术学院
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