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寻找关于G01R31/12:测试介电强度或击穿电压领域相关可售专利
G01R31/12领域相关在售专利
G01R大组
G01R1/00:包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R3/00:专门用于制造测量仪器的设备或方法
G01R5/00:将单个的电流或电压转换成为机械位移的仪表
G01R7/00:能将两个或多个电流或电压转换为单一机械位移的仪表
G01R9/00:采用机械谐振的仪表
G01R11/00:用于测量电功率或电流的时间积分的机—电装置，例如测量消耗量的时间积分
G01R13/00:显示电变量或波形的装置
G01R15/00:包含在G01R 17/00至G01R 29/00、G01R 33/00至G01R 33/26或G01R 35/00组中的各种测量装置的零部件
G01R17/00:包括与一个基准值作比较的测量装置，例如电桥
G01R19/00:用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
G01R21/00:电功率、功率因数的测量装置
G01R22/00:用于测量电功率或电流的时间积分的装置，例如电表
G01R23/00:测量频率的装置；频谱分析装置
G01R25/00:测量一个电压与一个电流之间的相位角或者电压之间或电流之间的相位角的装置
G01R27/00:测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R29/00:不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R31/00:电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置
G01R33/00:测量磁变量的装置或仪器
G01R35/00:包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
G01R1/00小组
G01R1/02:·一般结构零部件
G01R1/20:·电测量仪器中所用的基本电气元件的改进；这些元件和这类仪器的结构组合
G01R1/28:·在测量仪器中提供基准值的设备，例如提供标准电压、标准波形
G01R1/30:·电测量仪器与基本电子线路的结构组合，例如与放大器的结构组合
G01R1/36:·电测量仪器的过负载保护装置或电路
G01R1/38:·改变指示特性的装置，例如改进空气间隙
G01R1/40:·对仪器进行改进，使之能指示在一定时间内所达到的最大值或最小值，例如用最大值指示器指针
G01R1/44:·对仪器进行改进以实现温度补偿
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实用新型
有效专利
高压开关试验
申请日：
2021-10-12
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R31/327
、
G01R31/12
、
G01R1/04
发明人：
黄艮隆
申请人：
黄艮隆
一种交换机的耐压检测系统及检测方法
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发明专利
有效专利
交换机检测
申请日：
2016-11-02
当前状态：
授权
国际分类号：
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发明人：
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申请人：
上海斐讯数据通信技术有限公司
数据线的检测设备
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有效专利
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申请日：
2014-03-27
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R31/00
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、
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发明人：
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申请人：
上海斐讯数据通信技术有限公司
一种交流耐压试验装置
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实用新型
有效专利
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申请日：
2021-08-18
当前状态：
授权
国际分类号：
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、
G01K13/00
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发明人：
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申请人：
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可实现大小膜卷测试的薄膜电弱点测试仪控制系统
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有效专利
用于生产薄膜电容器的电工薄膜电弱点测试仪的控制系统
申请日：
2018-01-12
当前状态：
授权
国际分类号：
G05B19/05
、
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发明人：
钱锦绣
申请人：
钱立文
一种薄膜电弱点测试仪
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发明专利
有效专利
一种测试电气用塑料薄膜电气性能的电弱点测试仪
申请日：
2018-01-31
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R31/12
发明人：
钱锦绣
申请人：
钱立文
可提高测试精度的薄膜电弱点测试仪
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发明专利
有效专利
一种测试电气用塑料薄膜电气性能的电弱点测试仪
申请日：
2018-02-05
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R1/04
、
G01R31/12
发明人：
钱锦绣
申请人：
钱立文
高精度的薄膜电弱点测试仪
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发明专利
有效专利
一种测试电气用塑料薄膜电气性能的电弱点测试仪
申请日：
2018-02-02
当前状态：
授权
国际分类号：
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发明人：
钱锦绣
申请人：
钱立文
一种局部放电故障类型检测方法
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有效专利
申请日：
2020-06-04
当前状态：
授权
国际分类号：
G01R31/12
、
G01R15/16
发明人：
许明,何龙,陈国金
申请人：
杭州电子科技大学
一种应用于超声波局放检测的特征值提取方法
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发明专利
有效专利
超声波
申请日：
2019-04-09
当前状态：
授权
国际分类号：
G06K9/00
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发明人：
娄雨靖,孔亚广,陈张平
申请人：
杭州电子科技大学
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