首页 > 专利 > 湖南工学院 > 测量微波接收机相噪的方法与装置专利详情

测量微波接收机相噪的方法与装置   0    0

有效专利 查看PDF
专利申请流程有哪些步骤?
专利申请流程图
申请
申请号:指国家知识产权局受理一件专利申请时给予该专利申请的一个标示号码。唯一性原则。
申请日:提出专利申请之日。
2018-10-16
申请公布
申请公布指发明专利申请经初步审查合格后,自申请日(或优先权日)起18个月期满时的公布或根据申请人的请求提前进行的公布。
申请公布号:专利申请过程中,在尚未取得专利授权之前,国家专利局《专利公报》公开专利时的编号。
申请公布日:申请公开的日期,即在专利公报上予以公开的日期。
2019-04-02
授权
授权指对发明专利申请经实质审查没有发现驳回理由,授予发明专利权;或对实用新型或外观设计专利申请经初步审查没有发现驳回理由,授予实用新型专利权或外观设计专利权。
2020-12-25
预估到期
发明专利权的期限为二十年,实用新型专利权期限为十年,外观设计专利权期限为十五年,均自申请日起计算。专利届满后法律终止保护。
2038-10-16
基本信息
有效性 有效专利 专利类型 发明专利
申请号 CN201811202765.8 申请日 2018-10-16
公开/公告号 CN109450566B 公开/公告日 2020-12-25
授权日 2020-12-25 预估到期日 2038-10-16
申请年 2018年 公开/公告年 2020年
缴费截止日 2023-07-17
分类号 H04B17/29 主分类号 H04B17/29
是否联合申请 独立申请 文献类型号 B
独权数量 1 从权数量 9
权利要求数量 10 非专利引证数量 1
引用专利数量 1 被引证专利数量 0
非专利引证 1、2018.03.08洪俊等.基于光延时的相位噪声测量系统研制《.光电子·激光》.2017,第28卷(第12期),E Vilar等.An experimental mm-wavereceiver system for measuring phase noisedue to atmospheric turbulence《.1995 25thEuropean Microwave Conference》.2007,第114-119页. Terry N. Guo.Unique Measurement andModeling of Total Phase Noise in RFReceiver《.IEEE Transactions on Circuitsand Systems II: Express Briefs》.2013,第60卷(第5期),;
引用专利 WO2018044500A 被引证专利
专利权维持 3 专利申请国编码 CN
专利事件 事务标签 公开、实质审查、授权
申请人信息
申请人 第一申请人
专利权人 湖南工学院 当前专利权人 湖南工学院
发明人 洪俊、俞斌、彭志强、刘海波、王小虎、张松华、李祖林 第一发明人 洪俊
地址 湖南省衡阳市珠晖区衡花路18号 邮编 421002
申请人数量 1 发明人数量 7
申请人所在省 湖南省 申请人所在市 湖南省衡阳市
代理人信息
代理机构
专利代理机构是经省专利管理局审核,国家知识产权局批准设立,可以接受委托人的委托,在委托权限范围内以委托人的名义办理专利申请或其他专利事务的服务机构。
衡阳雁城专利代理事务所 代理人
专利代理师是代理他人进行专利申请和办理其他专利事务,取得一定资格的人。
颜田庆
摘要
一种测量微波接收机相噪的方法与装置,涉及微波通信技术领域,该测量微波接收机相噪的方法是:先将一辅助测试源输出的信号均分为上支路测试信号和下支路测试信号,上支路测试信号进入上支路的微波接收机中进行变频后输出上支路中频信号,下支路测试信号进入下支路中先进行变频再进行移相后输出下支路中频信号,再将得到的上支路中频信号及下支路中频信号先进行混频,再进行低通滤波,最后进行傅立叶分析,得到微波接收机的相噪值。本发明基于微波信号处理技术构建了一种测量微波接收机相噪的方法与装置,可有效地实现对微波接收机相噪的测量。
  • 摘要附图
    测量微波接收机相噪的方法与装置
  • 说明书附图:图1
    测量微波接收机相噪的方法与装置
  • 说明书附图:图2
    测量微波接收机相噪的方法与装置
法律状态
序号 法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
1 2020-12-25 授权
2 2019-04-02 实质审查的生效 IPC(主分类): H04B 17/29 专利申请号: 201811202765.8 申请日: 2018.10.16
3 2019-03-08 公开
权利要求
权利要求书是申请文件最核心的部分,是申请人向国家申请保护他的发明创造及划定保护范围的文件。
1.测量微波接收机相噪的装置,包括:辅助测试源、功分器1、功分器2、混频器2、窄带滤波器、移相器、混频器3、低通滤波器和傅立叶分析器;
所述辅助测试源与功分器1的输入端连接,所述功分器1的两输出端分别和微波接收机的微波输入端及混频器2的输入端连接;
所述功分器2的输入端与微波接收机的本振源输出端连接,所述功分器2的两个输出端分别和混频器2的另一输入端及微波接收机的混频器1输入端连接;
所述混频器2的输出端与窄带滤波器的输入端连接,所述窄带滤波器的输出端与移相器的输入端连接,所述移相器的输出端及微波接收机的输出端连接至混频器3的两输入端,所述混频器3的输出端与低通滤波器的输入端连接,所述低通滤波器的输出端与傅立叶分析器连接。

2.根据权利要求1所述的测量微波接收机相噪的装置,其特征在于:还包括可调放大器
1,所述可调放大器1的输入端及输出端分别和移相器的输出端及混频器3的输入端连接。

3.根据权利要求2所述的测量微波接收机相噪的装置,其特征在于:所述辅助测试源为一单频点信号源,该单频点信号源的工作频率与微波接收机的工作频率相同。

4.测量微波接收机相噪的方法,包括以下步骤:
1)将一辅助测试源输出的信号均分为上支路测试信号和下支路测试信号;所述上支路测试信号进入上支路的微波接收机中并在混频器1内与由本振源均分出的上支路振荡信号进行混频,变频后输出上支路中频信号;所述下支路测试信号进入下支路中并通过混频器2与由本振源均分出的下支路振荡源信号进行混频,变频后再进行移相,进行π/2的奇数倍相移之后,输出下支路中频信号;
2)将步骤1)得到的上支路中频信号及下支路中频信号先进行混频,再进行低通滤波,最后进行傅立叶分析,得到微波接收机的相噪值。

5.根据权利要求4所述的测量微波接收机相噪的方法,其特征在于:所述辅助测试源为一单频点信号源,该单频点信号源的工作频率与微波接收机的工作频率相同。

6.根据权利要求5所述的测量微波接收机相噪的方法,其特征在于:所述步骤1)中采用功分器1将辅助测试源输出的信号均分为上支路测试信号和下支路测试信号。

7.根据权利要求6所述的测量微波接收机相噪的方法,其特征在于:所述上支路的微波接收机通过功分器2将其本振源输出的单频点振荡信号均分为上支路振荡信号和下支路振荡源信号,所述上支路振荡源信号通过微波接收机的混频器与上支路测试信号进行混频。

8.根据权利要求7所述的测量微波接收机相噪的方法,其特征在于:在步骤1)中,所述下支路测试信号先通过下支路的混频器2与下支路振荡源信号进行混频,再通过窄带滤波器进行选频,接着通过移相器进行π/2的奇数倍相移,最终输出下支路中频信号。

9.根据权利要求8所述的测量微波接收机相噪的方法,其特征在于:在步骤1)中,移相后的信号还通过可调放大器1进行放大,最终输出下支路中频信号。

10.根据权利要求9所述的测量微波接收机相噪的方法,其特征在于:所述步骤2)中,上支路中频信号及下支路中频信号通过混频器3进行混频,输出包含有微波接收机相位信息的基带信号,所述基带信号再通过低通滤波器进行低通滤波后进入傅立叶分析器中进行频谱分析,最终得到微波接收机的相噪值。
说明书

技术领域

[0001] 本发明涉及微波通信技术领域,尤其指一种测量微波接收机相噪的方法与装置。

背景技术

[0002] 微波通信系统现已被广泛应用于通信、遥感遥测、雷达以及精确测量等领域,微波接收机作为微波通信系统的核心部件,对系统的性能影响至关重要。
[0003] 在通信领域中,相位噪声(简称相噪)是微波接收机的一个重要指标,常用于衡量接收机对载波相位干扰程度的大小。相位噪声可分为信号的相噪与器件或系统的附加相噪两大类,器件或系统的相噪是指当信号通过该器件或系统(如各种射频器件)“传输”或“处理”以后,在其内部噪声的作用下引起的输出信号相位的随机变化。
[0004] 目前,涉及相位噪声测量的技术有多种,例如:直接频谱仪法、鉴频法、鉴相法、双通道互相关法等,这些方法的特点各异,适用范围也不尽相同,然而它们均是测量信号源相噪的测试方法,并不适宜用于测量微波接收机的相噪,在通信领域中,还没有较好的用于测量微波接收机相噪的标准方法与商用仪器设备。

发明内容

[0005] 本发明基于微波信号处理技术构建了一种测量微波接收机相噪的方法与装置,可有效地实现对微波接收机相噪的测量。
[0006] 为了解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:一种测量微波接收机相噪的方法与装置,包括:辅助测试源、功分器1、功分器2、混频器2、窄带滤波器、移相器、混频器3、低通滤波器和傅立叶分析器;
[0007] 所述辅助测试源与功分器1的输入端连接,所述功分器1的两输出端分别和微波接收机的微波输入端及混频器2的输入端连接;
[0008] 所述功分器2的输入端与微波接收机的本振源输出端连接,所述功分器2的两个输出端分别和混频器2的另一输入端及微波接收机的混频器1输入端连接;
[0009] 所述混频器2的输出端与窄带滤波器的输入端连接,所述窄带滤波器的输出端与移相器的输入端连接,所述移相器的输出端及微波接收机的输出端连接至混频器3的两输入端,所述混频器3的输出端与低通滤波器的输入端连接,所述低通滤波器的输出端与傅立叶分析器连接。
[0010] 进一步地,上述测量微波接收机相噪的装置还包括可调放大器1,所述可调放大器1的输入端及输出端分别和移相器的输出端及混频器3的输入端连接。
[0011] 优选地,所述辅助测试源为一单频点信号源,该单频点信号源的工作频率与微波接收机的工作频率相同。
[0012] 作为本发明的另一面,测量微波接收机相噪的方法,包括以下步骤:
[0013] 1)将一辅助测试源输出的信号均分为上支路测试信号和下支路测试信号,所述上支路测试信号进入上支路的微波接收机中进行变频后输出上支路中频信号,所述下支路测试信号进入下支路中先进行变频再进行移相后输出下支路中频信号;
[0014] 2)将步骤1)得到的上支路中频信号及下支路中频信号先进行混频,再进行低通滤波,最后进行傅立叶分析,得到微波接收机的相噪值。
[0015] 进一步地,所述辅助测试源为一单频点信号源,该单频点信号源的工作频率与微波接收机的工作频率相同。
[0016] 进一步地,所述步骤1)中采用功分器1将辅助测试源输出的信号均分为上支路测试信号和下支路测试信号。
[0017] 再进一步地,所述上支路的微波接收机通过功分器2将其本振源输出的单频点振荡信号均分为上支路振荡信号和下支路振荡源信号,所述上支路振荡源信号通过微波接收机的混频器与上支路测试信号进行混频。
[0018] 更进一步地,在步骤1)中,所述下支路测试信号先通过下支路的混频器2与下支路振荡源信号进行混频,再通过窄带滤波器进行选频,接着通过移相器进行π/2的奇数倍相移,最终输出下支路中频信号。
[0019] 更进一步地,在步骤1)中,移相后的信号还通过可调放大器1进行放大,最终输出下支路中频信号。
[0020] 优选地,所述步骤2)中,上支路中频信号及下支路中频信号通过混频器3进行混频,输出包含有微波接收机相位信息的基带信号,所述基带信号再通过低通滤波器进行低通滤波后进入傅立叶分析器中进行频谱分析,最终得到微波接收机的相噪值。
[0021] 本发明基于微波信号处理技术,先将从辅助测试源中均分出的两路微波信号分别接入微波接收机和下支路中进行信号处理得到两路中频信号,再将两路中频信号进行混频,进而提取关于微波接收机的相噪物理量并进行傅立叶分析,求解得到所需相噪数据。本发明构思简单且巧妙,填补了当前国内外微波接收机相噪测量装置的空白,构建了一种测量微波接收机相噪的方法与装置,可有效地实现对微波接收机相噪的测量,既操作简单,且测量结果的准确性高。

实施方案

[0024] 为了便于本领域技术人员的理解,下面结合实施例与附图对本发明作进一步地说明,实施方式提及的内容并非对本发明的限定。
[0025] 在现有技术中,根据微波接收机的功能特性,可将其分为微波电路、本振源、混频器以及中频电路四个部分,图1为典型微波接收机的结构框图,其中,混频器1前端的电缆、可调放大器2、滤波器1构成了微波电路,混频器后端的滤波器2、可调放大器3构成了中频电路;微波电路用于传输与处理微波信号;本振源用于提供单频点振荡信号;微波信号与本振源提供的单频点振荡信号通过混频器进行混频,实现中频输出;该输出的中频信号可通过中频电路完成滤波、放大等信号处理过程。
[0026] 本实施方式所涉的测量微波接收机相噪的装置可用于测量微波接收机的相噪,如图2所示,该装置包括:辅助测试源、功分器1、功分器2、混频器2、窄带滤波器、移相器、混频器3、低通滤波器和傅立叶分析器;
[0027] 其中,辅助测试源与功分器1的输入端连接,功分器1的两输出端分别和微波接收机的微波输入端及混频器2的输入端连接;功分器2的输入端与微波接收机的本振源输出端连接,功分器2的两个输出端分别和混频器2的另一输入端及微波接收机的混频器1输入端连接;混频器2的输出端与窄带滤波器的输入端连接,窄带滤波器的输出端与移相器的输入端连接,移相器的输出端及微波接收机的输出端连接至混频器3的两输入端,混频器3的输出端与低通滤波器的输入端连接,低通滤波器的输出端与傅立叶分析器连接。
[0028] 进一步地,上述测量微波接收机相噪的装置还包括可调放大器1,可调放大器1的输入端及输出端分别和移相器的输出端及混频器3的输入端连接。
[0029] 再进一步地,上述辅助测试源为一单频点信号源,工作时可根据实际测试需要对其频率进行选择,如需要测试微波接收机在工作频率f的相噪,则应选择同一工作频率的辅助测试源,该测量装置对辅助测试源的强度与初相位无严格要求。
[0030] 在使用上述实施方式涉及的测量微波接收机相噪的装置测量典型微波接收机的相噪时(定义微波接收机为上支路,混频器2、窄带滤波器、移相器和可调放大器1依次串联形成的线路为下支路):
[0031] 辅助测试源输出的单频点信号通过功分器1均分为上支路测试信号和下支路测试信号;微波接收机中本振源输出的单频点振荡信号通过功分器2均分为上支路振荡信号和下支路振荡源信号。
[0032] 前述上支路测试信号进入上支路的微波接收机中,先通过电缆传输至可调放大器2,经过放大后通过滤波器1选频后在混频器1内与由本振源均分出的上支路振荡信号进行混频,再通过滤波器2选取混频后的中频信号,然后再经过可调放大器3完成损耗补偿,最终实现上支路中频信号输出。
[0033] 前述下支路测试信号进入下支路中,先通过混频器2与由本振源均分出的下支路振荡源信号进行混频,再通过窄带滤波器进行选频,接着通过移相器进行π/2的奇数倍相移并通过可调放大器1补偿损耗,最终实现下支路中频信号输出。
[0034] 将前述得到的上支路中频信号及下支路中频信号通过混频器3进行混频,输出包含有微波接收机相位信息的基带信号,基带信号再通过低通滤波器进行低通滤波后进入傅立叶分析器中进行频谱分析,最终得到微波接收机的相噪值。
[0035] 具体的:
[0036] 设辅 助 测试源 与本 振源 输出的 信号 均为 正弦 波信 号 ,分别 为与 分别为两信号的幅值,ωR与ωL为两信号的角频率,θ1与θ2为两信号的初相位。辅助测试源通过功分器1均分出上支路测试信号Acos(ωRt+θ1)和下支路测试信号Acos(ωRt+θ1),本振源通过功分器2均分出上支路振荡信号Bcos(ωLt+θ2)和下支路振荡信号Bcos(ωLt+θ2)。
[0037] 首先,对于上支路。接入上支路的上支路测试信号和上支路振荡信号通过微波接收机的处理实现中频输出的上支路中频信号可表示为:
[0038]
[0039] 其中,α为微波电路的损耗系数;β1为微波接收机中混频器1的变频损耗系数;γ1为中频电路的损耗系数;ωIF为中频信号的角频率,Δθ为上支路测试信号和上支路振荡信号的相位差,为微波接收机的相噪,即为本装置待测物理量,另外有:
[0040] ωIF=(ωR-ωL)  (2)
[0041] Δθ=θ1-θ2  (3)
[0042] 对于图1所涉的典型微波接收机,微波电路的损耗系数α由微波电路中电缆的插入损耗Ie、可调放大器2的电压增益g2与滤波器1的插入损耗If1决定,可表示为:
[0043]
[0044] 微波接收机中混频器1的变频损耗系数β1可表示为:
[0045]
[0046] 其中Im1为微波接收机中混频器1的插入损耗。
[0047] 中频电路的损耗系数γ1可由滤波器2的插入损耗与可调放大器3的电压增益表示为:
[0048]
[0049] 然后,对于下支路。下支路中,下支路测试信号通过混频器2与下支路振荡信号实现下变频处理,再由窄带滤波器选频,以及由移相器对其相位进行调节、控制,最后由可调放大器1补偿损耗,输出下支路中频信号,该信号可表示为:
[0050] S2=β2γ2ABcos(ωIFt+Δθ+ξ)  (7)
[0051] 其中,β2为混频器2的变频损耗系数;γ2为下支路中频电路(此处的中频电路由窄带滤波器、移相器、可调放大器1组成)的损耗系数;ξ为移相器提供的相移量。β2由下支路的混频器2决定,可表示为:
[0052]
[0053] Im2为混频器2的插入损耗;下支路的中频电路的损耗系数γ2则由窄带滤波器与移相器的插入损耗,以及可调放大器1的电压增益共同决定,可表示为:
[0054]
[0055] 然后,上支路中频信号和下支路中频信号在混频器3中进行混频,基于公式(1)与(7),混频后的基带信号可表示为:
[0056]
[0057] 其中,Im3为混频器3的插入损耗,化简可得:
[0058]
[0059] 其中, 基带信号最终通过低通滤波器,滤除2ωIF的频率成分,仅剩下包含微波接收机相噪的基带信号,即为:
[0060]
[0061] 调谐移相器的控制电压,使得 即使其相移量为π/2的奇数倍,则上式化简为:
[0062]
[0063] 而噪声 上式继续化简为:
[0064]
[0065] 该简化后的公式表示通过对微波信号进行处理,最终进入傅立叶分析器的基带信号即为与微波接收机相噪成正比的近直流信号。
[0066] 最后,求解相噪。根据相噪的定义:载波频偏f处1Hz带宽内对应的功率与整个载波功率的比值。最终可得出微波接收机的相噪为:
[0067]
[0068] 其中FFT(Sout)为Sout的傅立叶级数,可通过傅立叶分析器求得,Pin为输入至接收机的微波信号功率,其值为 Z为接收机的输入阻抗。
[0069] 上述实施例为本发明较佳的实现方案,除此之外,本发明还可以其它方式实现,在不脱离本技术方案构思的前提下任何显而易见的替换均在本发明的保护范围之内。
[0070] 为了让本领域普通技术人员更方便地理解本发明相对于现有技术的改进之处,本发明的一些附图和描述已经被简化,并且为了清楚起见,本申请文件还省略了一些其它元素,本领域普通技术人员应该意识到这些省略的元素也可构成本发明的内容。

附图说明

[0022] 图1为典型微波接收机的结构框图;
[0023] 图2为本发明测量微波接收机相噪的装置的结构框图。
版权所有:盲专网 ©2023 zlpt.xyz  蜀ICP备2023003576号