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基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统   0    0

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专利申请流程有哪些步骤?
专利申请流程图
申请
申请号:指国家知识产权局受理一件专利申请时给予该专利申请的一个标示号码。唯一性原则。
申请日:提出专利申请之日。
2016-04-29
申请公布
申请公布指发明专利申请经初步审查合格后,自申请日(或优先权日)起18个月期满时的公布或根据申请人的请求提前进行的公布。
申请公布号:专利申请过程中,在尚未取得专利授权之前,国家专利局《专利公报》公开专利时的编号。
申请公布日:申请公开的日期,即在专利公报上予以公开的日期。
2016-08-17
授权
授权指对发明专利申请经实质审查没有发现驳回理由,授予发明专利权;或对实用新型或外观设计专利申请经初步审查没有发现驳回理由,授予实用新型专利权或外观设计专利权。
2017-11-24
预估到期
发明专利权的期限为二十年,实用新型专利权期限为十年,外观设计专利权期限为十五年,均自申请日起计算。专利届满后法律终止保护。
2036-04-29
基本信息
有效性 有效专利 专利类型 发明专利
申请号 CN201610285929.2 申请日 2016-04-29
公开/公告号 CN105785386B 公开/公告日 2017-11-24
授权日 2017-11-24 预估到期日 2036-04-29
申请年 2016年 公开/公告年 2017年
缴费截止日
分类号 G01S17/32 主分类号 G01S17/32
是否联合申请 独立申请 文献类型号 B
独权数量 1 从权数量 2
权利要求数量 3 非专利引证数量 0
引用专利数量 0 被引证专利数量 0
非专利引证
引用专利 被引证专利
专利权维持 2 专利申请国编码 CN
专利事件 事务标签 公开、实质审查、授权
申请人信息
申请人 第一申请人
专利权人 杭州电子科技大学 当前专利权人 杭州电子科技大学
发明人 时光、王文、范绪银、范宗尉 第一发明人 时光
地址 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街 邮编
申请人数量 1 发明人数量 4
申请人所在省 浙江省 申请人所在市 浙江省杭州市
代理人信息
代理机构
专利代理机构是经省专利管理局审核,国家知识产权局批准设立,可以接受委托人的委托,在委托权限范围内以委托人的名义办理专利申请或其他专利事务的服务机构。
杭州君度专利代理事务所 代理人
专利代理师是代理他人进行专利申请和办理其他专利事务,取得一定资格的人。
杜军
摘要
本发明公开了基于F‑P标准具的高精度调频连续波激光测距系统。现有调频连续波测距系统以光纤长度作为基准,受外界影响大。本发明中可调谐激光器发射的激光经分路器分为A0、B0两路,B0路进入马赫增德尔干涉系统,A0路由分光棱镜分为A1、A2两路,A1路进入测量干涉系统,测量干涉系统和第一光电探测器对被测反射棱镜进行探测,产生干涉信号;A2路激光与F‑P标准具发生干涉后,由第二光电探测探测得到干涉信号;B0路激光与马赫增德尔干涉系统发生干涉,并由第三光电探测器探测得到干涉信号;同步采样系统将三路同步采样信号发送至上位机处理得出被测目标距离。本发明消除外界因素对马赫增德尔干涉系统两干涉臂光程差的影响。
  • 摘要附图
    基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统
  • 说明书附图:图1
    基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统
  • 说明书附图:图2
    基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统
法律状态
序号 法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
1 2017-11-24 授权
2 2016-08-17 实质审查的生效 IPC(主分类): G01S 17/32 专利申请号: 201610285929.2 申请日: 2016.04.29
3 2016-07-20 公开
权利要求
权利要求书是申请文件最核心的部分,是申请人向国家申请保护他的发明创造及划定保护范围的文件。
1.基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统,包括可调谐激光器、测量干涉系统、分路器、分光棱镜、第一光电探测器、上位机、同步采样系统、F-P标准具、第二光电探测、第三光电探测器和马赫增德尔干涉系统,其特征在于:所述可调谐激光器发射的经光频线性调制的窄线宽调频连续波激光经过分路器分为A0、B0两路,其中,B0路进入马赫增德尔干涉系统,A0路经准直透镜后由分光棱镜分为A1、A2两路,A1路进入测量干涉系统,A2路进入F-P标准具;所述的测量干涉系统和第一光电探测器用于对被测反射棱镜进行探测,产生干涉信号sig1;A2路激光与F-P标准具发生干涉后,由第二光电探测进行探测,得到干涉信号sig2;B0路激光与马赫增德尔干涉系统发生干涉,并由第三光电探测器进行探测,得到干涉信号sig3;所述的同步采样系统对干涉信号sig1、sig2和sig3进行放大、滤波和同步采样,并将三路同步采样信号发送至上位机处理得到被测反射棱镜与测量干涉系统中参考反射棱镜的光程差,进而得出被测目标的距离。

2.根据权利要求1所述的基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统,其特征在于:所述的测量干涉系统包括二分之一波片、参考反射棱镜、四分之一波片一、偏振分光立方体、偏振片、凸透镜和四分之一波片二;A1路激光经由二分之一波片调整偏振方向,并由偏振分光立方体控制分光比,经偏振分光立方体分为两束,其中一束经四分之一波片一被参考反射棱镜反射,另一束经四分之一波片二被被测反射棱镜反射,在偏振分光立方体的反射面汇合为一束合束激光;四分之一波片一和四分之一波片二用于将经过的激光偏振方向旋转90度,从而改变经过偏振分光立方体的激光传播方向;合束激光经依次经偏振片和凸透镜后由第一光电探测器进行探测,得到干涉信号sig1。

3.根据权利要求1所述的基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统,其特征在于:所述的上位机以干涉信号sig2作为基准对干涉信号sig3进行校正,得到信号sig4,具体为:干涉信号sig2的三个峰值为a、b和c,干涉信号sig3的三个峰值A、B和C分别间隔6个周期,调整干涉信号sig3得到信号sig4,使信号sig4分别间隔6个周期的三个峰值A'、B'、C'和干涉信号sig2的三个峰值a、b、c一一对齐;利用信号sig4作为采样时钟信号,对干涉信号sig1进行二次采样,得到重采样信号sig5,对重采样信号sig5进行时频变换即可得到被测反射棱镜与参考反射棱镜的光程差,进而得出被测目标的距离。
说明书

技术领域

[0001] 本发明属于光学技术领域,具体涉及一种基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统。

背景技术

[0002] 自激光器的诞生之初就被应用于测距领域,激光的方向性好、亮度高、单色性好等特性,决定了其在测量领域的独特优势。在地形测量、空间技术、军事领域以及工程测量中,激光测量技术的引入,使得测量范围不断增加,测量精度不断提高,测量方法不断创新,激光测量一直以来都是测量领域的热门研究课题。
[0003] 调频连续波(FMCW)激光测距是一种干涉式大尺寸激光绝对测距技术,具有测量精度高、绝对测量、无相位模糊问题、可实现无合作目标测量等优点,可以为大空间几何量测量提供便捷有效的解决方案,有着广阔的应用前景。
[0004] 可调谐激光器的调制线性度较差是限制调频连续波激光测距精度的主要因素,利用等光频间隔重采样的方式可以很大程度上抑制激光器调制非线性的影响。但是现有的调频连续波测距系统以光纤长度作为基准,受到外界温度、振动等因素影响较大导致精度较低。

发明内容

[0005] 本发明目的就是在于克服现有调频连续波激光测距系统的缺点和不足,提供了一种基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统。本发明结构较为简易,在有效抑制激光器调制非线性影响的同时,利用法布里-珀罗(F-P)标准具作为测距基准,进一步提高系统的测距精度。
[0006] 本发明包括可调谐激光器、测量干涉系统、分路器、分光棱镜、第一光电探测器、上位机、同步采样系统、F-P标准具、第二光电探测、第三光电探测器和马赫增德尔干涉系统;所述可调谐激光器发射的经光频线性调制的窄线宽调频连续波激光经过分路器分为A0、B0两路,其中,B0路进入马赫增德尔干涉系统,A0路经准直透镜后由分光棱镜分为A1、A2两路,A1路进入测量干涉系统,A2路进入F-P标准具;所述的测量干涉系统和第一光电探测器用于对被测反射棱镜进行探测,产生干涉信号sig1;A2路激光与F-P标准具发生干涉后,由第二光电探测进行探测,得到干涉信号sig2;B0路激光与马赫增德尔干涉系统发生干涉,并由第三光电探测器进行探测,得到干涉信号sig3。所述的同步采样系统对干涉信号sig1、sig2和sig3进行放大、滤波和同步采样,并将三路同步采样信号发送至上位机处理得到被测反射棱镜与测量干涉系统中参考反射棱镜的光程差,进而得出被测目标的距离。
[0007] 所述的测量干涉系统包括二分之一波片、参考反射棱镜、四分之一波片一、偏振分光立方体、偏振片、凸透镜和四分之一波片二;A1路激光经由二分之一波片调整偏振方向,并由偏振分光立方体控制分光比,经偏振分光立方体分为两束,其中一束经四分之一波片一被参考反射棱镜反射,另一束经四分之一波片二被被测反射棱镜反射,在偏振分光立方体的反射面汇合为一束合束激光;四分之一波片一和四分之一波片二用于将经过的激光偏振方向旋转90度,从而改变经过偏振分光立方体的激光传播方向;合束激光经依次经偏振片和凸透镜后由第一光电探测器进行探测,得到干涉信号sig1。
[0008] 所述的上位机以干涉信号sig2作为基准对干涉信号sig3进行校正,得到信号sig4,具体为:干涉信号sig2的三个峰值为a、b和c,干涉信号sig3的三个峰值A、B和C分别间隔6个周期,调整干涉信号sig3得到信号sig4,使信号sig4分别间隔6个周期的三个峰值A'、B'、C'和干涉信号sig2的三个峰值a、b、c一一对齐。利用信号sig4作为采样时钟信号,对干涉信号sig1进行二次采样,得到重采样信号sig5,对重采样信号sig5进行时频变换即可得到被测反射棱镜与参考反射棱镜的光程差,进而得出被测目标的距离。
[0009] 与现有技术相比,本发明的有益效果是:
[0010] 利用法布里-珀罗标准具作为基准,对马赫增德尔干涉系统得到的干涉信号进行校准,消除了由于外界振动、温度等因素对马赫增德尔干涉系统两干涉臂的光程差产生的影响。将测距结果溯源到了法布里-珀罗标准具的长度,提高了测距精度。

实施方案

[0014] 下面结合附图和具体实施例对本发明技术方案作进一步描述。
[0015] 如图1所示,基于F-P标准具的高精度调频连续波激光测距系统,包括可调谐激光器1、测量干涉系统、分路器2、分光棱镜4、第一光电探测器11、上位机14、同步采样系统15、F-P标准具16、第二光电探测17、第三光电探测器18和马赫增德尔干涉系统19;可调谐激光器1发射的经光频线性调制的窄线宽调频连续波激光经过分路器2分为A0、B0两路,其中,B0路进入马赫增德尔干涉系统19,A0路经准直透镜3后由分光棱镜4分为A1、A2两路,A1路进入测量干涉系统,A2路进入F-P标准具16;测量干涉系统和第一光电探测器11用于对被测反射棱镜13进行探测,产生干涉信号sig1;A2路激光与F-P标准具16发生干涉后,由第二光电探测17进行探测,得到干涉信号sig2;B0路激光与马赫增德尔干涉系统19发生干涉,并由第三光电探测器18进行探测,得到干涉信号sig3。同步采样系统15对干涉信号sig1、sig2和sig3进行放大、滤波和同步采样,并将三路同步采样信号发送至上位机14处理得到被测反射棱镜13与测量干涉系统中参考反射棱镜6的光程差,进而得出被测目标的距离。
[0016] 测量干涉系统包括二分之一波片5、参考反射棱镜6、四分之一波片一7、偏振分光立方体8、偏振片9、凸透镜10和四分之一波片二12;A1路激光经由二分之一波片5调整偏振方向,并由偏振分光立方体8控制分光比,经偏振分光立方体8分为两束,其中一束经四分之一波片一7被参考反射棱镜6反射,另一束经四分之一波片二12被被测反射棱镜13反射,在偏振分光立方体8的反射面汇合为一束合束激光;四分之一波片一7和四分之一波片二12用于将经过的激光偏振方向旋转90度,从而改变经过偏振分光立方体的激光传播方向;合束激光经依次经偏振片9和凸透镜10后由第一光电探测器11进行探测,得到干涉信号sig1。
[0017] 干涉信号sig2和sig3如图2所示。上位机14以干涉信号sig2作为基准对干涉信号sig3进行校正,得到信号sig4。图2中,干涉信号sig2的三个峰值为a、b和c,干涉信号sig3的三个峰值A、B和C分别间隔6个周期,调整干涉信号sig3得到信号sig4,使信号sig4分别间隔6个周期的三个峰值A'、B'、C'和干涉信号sig2的三个峰值a、b、c一一对齐。利用信号sig4作为采样时钟信号,对干涉信号sig1进行二次采样,得到重采样信号sig5,对重采样信号sig5进行时频变换即可得到被测反射棱镜13与参考反射棱镜6的光程差,进而得出被测目标的距离。

附图说明

[0011] 图1为本发明的系统结构示意图;
[0012] 图2为利用F-P标准具对马赫增德尔干涉系统的信号进行校正的过程图。
[0013] 图中:1、可调谐激光器,2、分路器,3、准直透镜,4、分光棱镜,5、二分之一波片,6、参考反射棱镜,7、四分之一波片一,8、偏振分光立方体,9、偏振片,10、凸透镜,11、第一光电探测器,12、四分之一波片二,13、被测反射棱镜,14、上位机,15、同步采样系统,16、F-P标准具,17、第二光电探测器,18、第三光电探测器,19、马赫增德尔干涉系统。
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